IEC60884-1 চিত্র ২৭ এবং চিত্র ৪২ পিন-ইনসোলেটিং স্ব, প্লাগ পরীক্ষা করার জন্য নিম্ন তাপমাত্রা প্রভাব পরীক্ষা যন্ত্রপাতি

IEC60884-1 চিত্র ২৭ এবং চিত্র ৪২ পিন-ইনসোলিং সেলফি, প্লাগ এবং সকেট-আউটলেট পরীক্ষা করার জন্য নিম্ন তাপমাত্রা প্রভাব পরীক্ষার যন্ত্র

1উপস্থাপনা:

নিম্ন তাপমাত্রার ধাক্কা পরীক্ষার যন্ত্রটি আইইসি ৬০৮৮৪-৪ ধারা ২৪/৪ চিত্র ২৭ এবং ধারা ৩০/৪ চিত্র ৪২, আইইসি ৬০৮১১-১-৪ ধারা ৮ অনুযায়ী ডিজাইন করা হয়েছে।5, VDE0620, GB29514, GB2099.1 ধারা 24.4 এবং 30.4 চিত্র 27 & চিত্র 42 এবং ইত্যাদি।একটি কম তাপমাত্রায় প্রভাব পরীক্ষা জন্য যন্ত্র কম তাপমাত্রা চেম্বার সঙ্গে কাজ করা উচিত এবং এটি একটি 40mm পুরু স্পঞ্জ রাবার প্যাড উপর স্থাপন করা উচিত.

এই যন্ত্রটি 100 মিমি উচ্চতা থেকে 100 গ্রাম বা 1000 গ্রাম ওজনের একটি পতনের সাথে পিন-ইনসুলেটিং স্লিভগুলিতে একটি প্রভাব পরীক্ষা সম্পাদন করতে হবে,আইইসি ৬০৮৮৪-১-এর ২৪ নং ধারা অনুযায়ী পরীক্ষার প্রয়োজনীয়তা পূরণের জন্য কম তাপমাত্রায় প্লাগ এবং সকেট-আউটলেট.4 এবং 30.4পরীক্ষার পরে, অতিরিক্ত বৃহত্তরকরণ ছাড়া স্বাভাবিক বা সংশোধিত দৃষ্টিতে আইসোলেশন সিলগুলির কোনও ফাটল দৃশ্যমান হবে না এবং নমুনায় কোনও ক্ষতি দেখা যাবে না।

ডিভাইসটি কম তাপমাত্রায় পিভিসি বিচ্ছিন্নতা এবং sheaths সঙ্গে শক্তি তারের, নমনীয় তার এবং তারের উপর 100mm থেকে একটি প্রভাব পরীক্ষা সঞ্চালন করতে পারেন,ক্যাবলের সামগ্রিক ব্যাসার্ধ দ্বারা পতনের ওজন নির্ধারিত হয় (নীচের টেবিল 1 এবং টেবিল 2 দেখুন), পরীক্ষাটি IEC60811-1-4 ক্লজ 8.5 এবং চিত্র 1 এর পরীক্ষার প্রয়োজনীয়তা পূরণ করতে পারে। পরীক্ষার পরে,অতিরিক্ত বৃহত্তরীকরণ ছাড়া স্বাভাবিক বা সংশোধিত দৃষ্টিতে আইসোলেশন গহ্বরের কোনও ফাটল দৃশ্যমান হতে পারে না.

2স্পেসিফিকেশনঃ